技術(shù)文章_第(29)頁(yè)－北京中科微納精密儀器有限公司

粉體電阻測(cè)試儀常常需要對(duì)不同材質(zhì)的粉末進(jìn)行電性能測(cè)試
2023-06-20 粉體電阻測(cè)試儀是一種用于測(cè)量粉體材料電阻率的儀器。在化工、冶金、礦山等行業(yè)中，常常需要對(duì)不同材質(zhì)的粉末進(jìn)行電性能測(cè)試，以便掌握其物理特性和生產(chǎn)工藝參數(shù)。一、粉體電阻測(cè)試原理粘附在一起的細(xì)小顆粒之間會(huì)形成一定程度上的接觸面積，在這個(gè)接觸面積上存在著微弱的導(dǎo)通路徑。當(dāng)給予該物質(zhì)外加直流高壓時(shí)，因?yàn)槲⑷鯇?dǎo)通路徑所帶來(lái)極低的輸運(yùn)能力而表現(xiàn)出相應(yīng)較高的總反抗值（R），它包括了所有可能類(lèi)型導(dǎo)通路徑產(chǎn)生反抗值。二、粉體電阻測(cè)試儀組成及使用方法1.組成部分：一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)系統(tǒng)涵蓋兩個(gè)主要構(gòu)件—試樣...
納米材料的制備方法
2023-06-20 納米粒子的制備方法很多，可分為物理方法和化學(xué)方法。物理方法1、真空冷凝法用真空蒸發(fā)、加熱、高頻感應(yīng)等方法使原料氣化或形成等粒子體，然后驟冷。其特點(diǎn)純度高、結(jié)晶組織好、粒度可控，但技術(shù)設(shè)備要求高。2、物理粉碎法通過(guò)機(jī)械粉碎、電火花爆炸等方法得到納米粒子。其特點(diǎn)操作簡(jiǎn)單、成本低，但產(chǎn)品純度低，顆粒分布不均勻。3、機(jī)械球磨法采用球磨方法，控制適當(dāng)?shù)臈l件得到純?cè)亍⒑辖鸹驈?fù)合材料的納米粒子。其特點(diǎn)操作簡(jiǎn)單、成本低，但產(chǎn)品純度低，顆粒分布不均勻?；瘜W(xué)方法1、氣相沉積法利用金屬化合物蒸氣...
粉體工程的研究?jī)?nèi)容有哪些
2023-06-14 粉體工程的研究?jī)?nèi)容主要包括粉體科學(xué)(powderscience)和粉體技術(shù)(powdertechnology)兩大部分。其主要研究?jī)?nèi)容見(jiàn)表1。表1粉體工程研究?jī)?nèi)容主要內(nèi)容粉體科學(xué)粉體幾何形態(tài)粒徑、粒度、粒度分布、顆粒形狀、顆粒的堆積特性粉體力學(xué)內(nèi)部應(yīng)力、破壞強(qiáng)度、壓力分布、內(nèi)摩擦特性、流動(dòng)特性、流化特性粉體化學(xué)吸附、凝聚、溶解、析晶、沉淀、升華、表面化學(xué)性質(zhì)氣溶膠發(fā)生、物化性質(zhì)、動(dòng)力學(xué)、測(cè)定粉體的潤(rùn)濕粉體層中液體的種類(lèi)、潤(rùn)濕的判斷、液體架橋、抽吸勢(shì)粉體計(jì)測(cè)取樣法、分散、測(cè)量其...
什么是真實(shí)密度
2023-06-07 真密度（真實(shí)密度、骨架密度）：指材料在密實(shí)狀態(tài)下，單位“固體物質(zhì)的實(shí)際體積（不包括內(nèi)部空隙，即不包含開(kāi)孔和閉孔以及顆粒間空隙）”的質(zhì)量。真密度與密度的概念相同。使用密度瓶法測(cè)試材料的真密度存在一些影響測(cè)試結(jié)果的問(wèn)題，如：1、不同的樣品需要采用不同的浸潤(rùn)液體，以防止溶解、與材料起反應(yīng)等問(wèn)題；對(duì)無(wú)機(jī)粉體一般多選用有機(jī)溶劑、對(duì)水會(huì)引起反應(yīng)的材料如水泥則可用煤油或二甲苯等有機(jī)液體介質(zhì)等；2、浸潤(rùn)液體要能夠容易潤(rùn)濕材料內(nèi)部孔隙的表面，如果選取的潤(rùn)濕液不恰當(dāng)，會(huì)產(chǎn)生不易浸潤(rùn)表面的情況，影...
影響比表面積及孔徑測(cè)試結(jié)果的主要因素
2023-05-31 和樣品預(yù)處理時(shí)間有關(guān)。以氫氧化鎳為例，它的處理時(shí)間至少需要8h，由于其干燥過(guò)程容易板結(jié)，故處理溫度不宜過(guò)高（一般90°C），由于處理溫度不夠高，需用加長(zhǎng)時(shí)間來(lái)彌補(bǔ)。第二，和樣品的處理溫度有關(guān)。以氧化鋁為例，它的處理溫度一般是300°C。若降低其處理溫度，容易造成測(cè)量結(jié)果偏低，且BET測(cè)量曲線的線性很差。第三，和處理時(shí)的真空度有關(guān)。真空度偏低，使真空室的飽和蒸汽壓偏高，樣品表面處理不干凈，這樣都造成測(cè)量結(jié)果偏低（個(gè)別樣品除外）。第四，和稱(chēng)樣量多少有關(guān)。樣品量的多少和其自身的比表...
粉體材料電阻測(cè)試儀是一種用于測(cè)試粉狀或顆粒狀材料電阻率的設(shè)備
2023-05-25 粉體材料電阻測(cè)試儀是一種用于測(cè)試粉狀或顆粒狀材料電阻率的設(shè)備。它常用于粉末冶金和材料顆粒研究等領(lǐng)域，以及粉體材料制造和加工過(guò)程中。測(cè)試過(guò)程中，儀器會(huì)施加特定的電壓和電流值到材料表面，然后通過(guò)測(cè)量材料上的電阻值來(lái)計(jì)算電阻率。粉體材料電阻測(cè)試儀的主要部件包括電源、電極、電阻計(jì)和數(shù)據(jù)采集器等。在測(cè)試粉體材料時(shí)，需要使用專(zhuān)用夾子將樣本夾住以保證測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可重復(fù)性。此外，粉體材料電阻測(cè)試儀還配備了各種控制和調(diào)節(jié)裝置，以確保測(cè)試參數(shù)的穩(wěn)定性和精確性。通過(guò)使用粉體材料電阻測(cè)試儀，可...
絕緣材料的直流電阻率標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
2023-05-23 絕緣材料的直流電阻率標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法該標(biāo)準(zhǔn)發(fā)布在名為D257的標(biāo)準(zhǔn)文件中；緊跟標(biāo)準(zhǔn)文件名稱(chēng)后的數(shù)字表示*初采用的年份，對(duì)于修訂版本而言，表示*近一次修訂的年份。括號(hào)里的數(shù)字表示*近一次通過(guò)審批的年份，上標(biāo)ε表示自從一次修訂或通過(guò)審批以來(lái)的編輯性的修改。1、適用范圍1.1這些測(cè)試方法涵蓋了直流絕緣電阻率、體積電阻率和表面電阻率的測(cè)量步驟。通過(guò)試樣、電極的幾何尺寸和這些測(cè)量方法可以計(jì)算得到電絕緣材料的體積和表面電阻，同時(shí)也可以計(jì)算得到相應(yīng)的電導(dǎo)率和電導(dǎo)。1.2這些測(cè)試方法不適用測(cè)量適...
介電常數(shù)和介質(zhì)損耗有什么區(qū)別
2023-05-17 介電常數(shù)和介質(zhì)損耗有什么區(qū)別介電特性是電介質(zhì)材料極其重要的性質(zhì)。在實(shí)際應(yīng)用中，電介質(zhì)材料的介電系數(shù)和介質(zhì)損耗是非常重要的參數(shù)。例如，制造電容器的材料要求介電系數(shù)盡量大，而介質(zhì)損耗盡量小。相反地，制造儀表絕緣器件的材料則要求介電系數(shù)和介質(zhì)損耗都盡量小。而在某些特殊情況下，則要求材料的介質(zhì)損耗較大。所以，通過(guò)測(cè)定介電常數(shù)（ε)及介質(zhì)損耗角正切（tgδ),可進(jìn)一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素，為提高材料的性能提供依據(jù)1、介電常數(shù)（ε):某一電介質(zhì)（如硅酸鹽、高分子材料）組成...

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